某发射筒端盖开盖性能异常原因

摘要：

某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象.采用X射线检测、仿真分析等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析.结果表明:端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,试验方法选用不当,导致了该端盖在测试时形态异常;X射线检测可以发现端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,动态开盖试验方法也可以避免端盖在测试时出现形态异常.

关键词：发射筒端盖、开盖形态、X射线检测、仿真分析

所属期刊栏目：58

分类号：TG131(金属学与热处理)

在线出版日期：2022-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-40,44