某发射筒端盖密封失效分析

摘要：

某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析.结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1 mm,可有效避免此类失效的发生.

关键词：发射筒端盖、裂纹、密封性、机械失效

所属期刊栏目：55

分类号：TB233(工程设计与测绘)

在线出版日期：2019-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：730-732