Rietveld全谱拟合方法定量测定GCr15粉末冶金试样中的残余奥氏体含量

摘要：

分别采用YB/T 5338-2006规定的方法和Rietveld全谱拟合方法对常规GCr15钢中的残余奥氏体含量进行了定量分析,发现两种方法所得结果十分相近,Rietveld全谱拟舍方法具有准确、方便和快捷等优点,可作为用X射线衍射仪进行残余奥氏体定量测定的有益补充.进而对于X射线衍射峰强度比值不符合YB/T 5338-2006要求的某GCr15粉末冶金失效零件试样,采用Rietveld全谱拟合方法进行了残余奥氏体含量的定量测定,得到其残余奥氏体含量高达19.09%(质量分数),远远超过了正常值,这可能是导致该零件失效的原因之一.

关键词：GCr15、粉末冶金、残余奥氏体、Rietveld全谱拟合方法

所属期刊栏目：47

分类号：TG115.23(金属学与热处理)

在线出版日期：2011-08-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：90-93