残余应力测定的基本知识第二讲 X射线应力测定的基本原理

摘要：

@@ 用X射线衍射技术来测定材料中的残余应力(或外载应力与残余应力的代数和)称为X射线应力测定.其特点是:①属于物理方法,不改变试件的原始应力状态;②理论严谨,方法成熟;③测定的是表面应力,故对材料的表层状态比较敏感,必须对测试点作恰当的表面处理;④根据特点③,可以借助于电解抛光等手段测定应力沿层深的分布.

机标关键词：残余应力测定、基本知识、射线、原理、状态比较、应力状态、衍射技术、物理方法、电解抛光、材料、表面应力、表面处理、测试点、试件、理论、分布、代数、表层

所属期刊栏目：43

分类号：O344.1;TG115.22(固体力学)

在线出版日期：2007-06-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：263-265