10.3969/j.issn.1001-4012.2005.01.007
纳米粒子粒径的测量研究
采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径的测量进行了研究.结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,且两者的测量结果相当一致;纳米粒子实际平均粒径似应在两种方法测定结果之间.
纳米粒子、X射线衍射法、透射电子显微镜法、测量
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TG115.2(金属学与热处理)
上海市教委资助项目02IZ22;上海市纳米科技专项基金0211nm100
2005-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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24-26,35