10.3969/j.issn.1001-4012.2004.11.007
Ruland方法测定4A分子筛的结晶度
应用X射线衍射方法测量了4A分子筛的结晶度,并对影响结晶度的主要因素进行了探讨,通过空气散射校正、Compton散射消除和无定型散射曲线识别等步骤来确定其结晶度.结果表明,如果在实际工作中不考虑D(s)这个无序函数,得到的Xc曲线偏低,偏差较大,这种变化将会直接影响分子筛催化剂在催化反应过程中产品收率和反应选择性.
分子筛、X射线衍射、结晶度、无序函数、散射
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O434.1(光学)
2004-12-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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