10.3969/j.issn.1001-4012.2004.01.004
铌硅化合物氧化行为的X射线衍射分析
利用原位X射线衍射技术,研究了Nb5Si3-66%NbSi2和NbSi2的中温氧化行为及氧化层物相结构.结果表明,随着含硅量增加,材料抗氧化能力加强,其中NbSi2氧化反应速度较慢.在氧分压较低情况下,NbSi2氧化后同时生成Nb2O5及NbO氧化物.
铌硅化合物、氧化行为、X射线衍射
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TG115.23(金属学与热处理)
国家自然科学基金50131030;上海市应用材料研究与发展基金0211
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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