铌硅化合物氧化行为的X射线衍射分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-4012.2004.01.004

铌硅化合物氧化行为的X射线衍射分析

引用
利用原位X射线衍射技术,研究了Nb5Si3-66%NbSi2和NbSi2的中温氧化行为及氧化层物相结构.结果表明,随着含硅量增加,材料抗氧化能力加强,其中NbSi2氧化反应速度较慢.在氧分压较低情况下,NbSi2氧化后同时生成Nb2O5及NbO氧化物.

铌硅化合物、氧化行为、X射线衍射

40

TG115.23(金属学与热处理)

国家自然科学基金50131030;上海市应用材料研究与发展基金0211

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

10-12

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

理化检验(物理分册)

1001-4012

31-1338/TB

40

2004,40(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn