预氧化熔融制样-X射线荧光光谱法测定硼铁合金中硼、硅、铝和磷

摘要：

硼铁合金样品经过预氧化熔融,制得样品的玻璃熔片,采用X射线荧光光谱法测定玻璃熔片中硼、硅、铝和磷等4种元素的含量.优化的试验条件如下:① 熔剂为焦硫酸钾;② 熔剂与样品的稀释比为40:1;③ 氧化剂为碳酸锂和硝酸钠;④ 玻璃熔片的熔融时间为20 min.4种元素的质量分数在一定范围内与其对应的荧光强度呈线性关系,测定下限为0.0068％～0.0179％.对硼铁标准样品平行测定10次,测定值的相对标准偏差为0.22％～3.9％.方法应用于硼铁合金样品的分析,测定结果与湿法分析的结果相符.

关键词：X射线荧光光谱法、预氧化、熔融制样、硼、硅、铝、磷、硼铁合金

所属期刊栏目：55

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2019-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：545-549