X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量

摘要：

应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好.应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值.实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题.在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰.

关键词：X射线荧光光谱法、谱线重叠校正系数、基本参数法

所属期刊栏目：53

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2017-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：183-189