能量色散X射线荧光光谱仪的冲氦系统改造
X 射线荧光光谱法的基本原理是当物质中的原子受到高能辐射的激发后，发射出该原子所具有的特征 X 射线。根据探测到该元素特征 X 射线的存在与否，进行定性分析；其强度可作为定量分析的依据。该法具有准确度高、分析速度快、试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定［1-2］。样品可以是固体、粉末、熔融片、液体等，分析对象适用于钢铁、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业。
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O657.34(分析化学)
国家自然科学基金11375126；苏州大学实验室安全及设备管理教改项目58333008
2016-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
208-210
