X射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整

摘要：

应用X射线荧光光谱法分析了矿石样品.将粉碎至粒径为0.088 mm的矿样用模压法在32 MPa压力条件下加压40 s,压制成直径为40 mm,厚度为3mm的片样.试验从生产线上选取15个各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应,并选用一组已知样品制作工作曲线.以MXF-2400型X射线荧光光谱仪所附带的PC-MXF-E软件中的校正公式,通过化学计量学处理,包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等,达到了X射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整.应用此方法分析了3组地质样品,所测定的铜、铅、锌3种元素的含量与化学法所测得的结果完全一致,又用同一样片对其中的5项组分进行6次测定,所得测定值的相对标准偏差均小于1％.

关键词：X射线荧光光谱法、工作曲线、精确调整、矿样

所属期刊栏目：49

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2013-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：673-676