X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝、全铁的含量

摘要：

应用X射线荧光光谱法（XRFS）测定了萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝和全铁的含量。采用熔融法制备样块，称取粒径小于0．125mm的试样1．000g于铂坩埚中与硝酸钾0．2g、碳酸锂1．0g及无水四硼酸锂5．0g混合均匀，加入150g·L^-1溴化锂溶液3滴，于1050℃熔融20min，所得熔块用XRFS对上述4种组分进行测定。对含有还原性物质的试样采用先在铂坩埚中加入无水四硼酸锂熔融，使熔剂均匀粘涂于坩埚内壁的下部和底部，冷却后再用硝酸钾及碳酸锂按程序在低温预氧化后升至高温对样品进行熔融，所得熔块用于XRFS分析，用标准样品按试验方法制备工作曲线。应用此法分析了4个萤石样品，上述组分的测定值与化学法的测定值相符。

关键词：X射线荧光光谱法、萤石、熔融法、氟化钙、二氧化硅、氧化铝、全铁

所属期刊栏目：47

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：1162-1164