10.3321/j.issn:1001-4020.2009.05.018
离心浇铸制样-X射线荧光光谱法测定钼铁中钼硅磷铜
为克服钼铁中元素的偏析,应用了离心浇铸工艺制成蘑菇状的片样供X射线荧光光谱法用,对制样的过程作了详细的叙述.为制作工作曲线用了5个国外内钼铁标准样品及3个内控标准样品,用同一钼铁样品制备6个片样,按试验条件分别进行钼、硅、磷、铜4元素的测定,并对方法的精密度进行了试验,测得相对标准偏差(n=6)在0.24%~5.41%之间.在分析4个钼铁试样时,所得上述4元素的测定值与用化学方法所测得结果一致.
X射线荧光光谱法、样品制备、离心浇铸、钼铁
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O657.34(分析化学)
2009-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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