电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁及镁合金中硅含量

摘要：

用硝酸及少量氢氟酸可将试样完全溶解,所得溶液可用于电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)或钼蓝分光光度法测定镁和镁合金中的硅含量,对ICP-AES测定硅的分析条件作了试验.为避免各共存元素的干扰,方法中选择波长为Si Ⅰ 251.611 nm及Si Ⅰ 212.412 nm的谱线作为分析谱线.在制作工作曲线时加入与待测样品等量的镁以补偿基体组分引起的基体效应,在选用上述两谱线作为分析线时,硅的质量浓度在40.0 mg·L-1以内时与谱线的发射强度均呈线性关系,所得检出限(3S/N)依次为6.2和15μg·L-1.应用此方法分析了3种镁合金标准样品,所得结果与标准值相符.

关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法、硅、镁及镁合金

所属期刊栏目：45

分类号：O657.31(分析化学)

资助基金：上海市科委基金07202

在线出版日期：2009-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：537-539