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10.3321/j.issn:1001-4020.2009.02.035

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定稀土富集物中稀土元素

引用
@@ 稀土富集物的测定,一般采用X荧光光谱法[1],这种方法对常量分析结果较好,但测定低含量元素时,分析下限较高.随着稀土工业的发展,对稀土产品要求愈来愈高,其中对镧铈镨钕富集物中界限元素的测定下限,用X荧光光谱法测定已不能满足要求.

电感耦合等离子体、原子发射、光谱法测定、稀土富集物、稀土元素、Determination of、荧光光谱法、镨钕富集物、低含量元素、稀土工业、分析结果、产品要求、测定下限、镧铈、界限、方法、常量

45

O657.31(分析化学)

2009-04-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共2页

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