辉光放电质谱法分析高纯镓时检出限降低的研究

摘要：

研究了用辉光放电质谱法(GDMS)测定高纯镓时,以钙、锡、汞为测定对象,从增加样品的直径、适当降低工作分辨率、增加扫描次数以及增加积分时间等方面进行研究,降低了方法的检出限.

关键词：辉光放电质谱法、检出限、高纯镓、杂质测定

所属期刊栏目：42

分类号：O657.63(分析化学)

在线出版日期：2006-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：466-468