X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分

摘要：

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定.讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW 07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜＜6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍＜14.0%以外,其余各组分均小于3.0%.

关键词：X射线荧光光谱法、化探样品、背景、谱线重叠校正、粉末样品压片

所属期刊栏目：41

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：国土资源部地质调查项目DKD9904017

在线出版日期：2005-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：547-552