ICP-AES法测定钼铁中杂质元素Si、P、Cu

摘要：

研究了用ICP-AES法测定钼铁中杂质元素Si、P、Cu的方法,建立了试样的最佳处理方法和仪器的最佳工作条件,采用基体匹配法以及应用软件中谱线干扰校正程序消除基体以及共存元素对元素分析谱线的干扰,并进行了精密度和准确度实验,效果令人满意.

机标关键词：ICP-AES法、测定、钼铁、元素分析谱线、基体匹配法、杂质元素、校正程序、谱线干扰、工作条件、处理方法、准确度、元素对、软件中、精密度、仪器、试样、实验、共存

分类号：TF7(炼钢)

在线出版日期：2010-04-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：6-7