X射线荧光光谱仪测定磷矿石中P2O5基底滤纸制样条件研究

摘要：

@@ 磷矿石样品分析中采用薄膜法、滤纸片法等[1-3],其优点是,制样手续简便,试样用量少,数据处理时所用计算公式简单,吸收-增强效应可不考虑.在薄膜法制样中,选取最佳试样厚度和控制液斑面积,可进一步节省试样,获得更满意的分析结果.本文研究用滤纸片制样--XRF法测定磷矿石中P2O5时,滤纸片吸附磷矿石的总量(即厚度)和磷矿石液的扩散面积对分析结果的影响.

机标关键词：射线荧光光谱仪、测定、磷矿石、基底、滤纸片制样、条件研究、fluorescence、X-ray、phosphate rock、determination of、filter paper、thin、分析结果、试样厚度、薄膜法、增强效应、样品分析、数据处理、扩散面积、滤纸片法

所属期刊栏目：26

分类号：O657.34;TQ041+.7(分析化学)

在线出版日期：2011-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：61,78