透明胶纸X射线荧光光谱测定磷矿浮选矿浆中的镁

摘要：

@@ 试样制备是所有XRF法测定准确度最重要的影响因素,误差的绝大多数来自于制样技术的优劣.制样技术要解决的问题就是保证实际被分析的样品表层真正代表整个样品(XRF法特点是其近表面分析特性,穿透样品的深度可能只有几微米).尽量消除试样组成及颗粒分布的不均匀性.

机标关键词：胶纸、射线、荧光光谱测定、磷矿浮选、矿浆、fluorescence、X-ray、制样技术、样品、测定准确度、影响因素、试样制备、颗粒分布、分析特性、不均匀性、近表面、法特点、XRF、误差、问题

所属期刊栏目：24

分类号：TQ440.72

在线出版日期：2009-05-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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