10.3969/j.issn.1007-6220.2009.02.026
X射线荧光光谱快速分析浮选磷矿中的P2O5和MgO
使用Thermo Fisher公司ARL ADVANT'XP型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片和基本参数法校正基体效应的方法,实现了浮选磷矿中控样主要指标P2O5、MgO的快速分析,各组分的精密度(n=7)RSD<1.0%.监控样的分析结果与化学法或熔融-XRF法的结果基本吻合.
X射线荧光光谱仪、浮选磷矿、P2O5、MgO快速分析
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TD971+.3;TD926.3(选矿)
2009-05-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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