硫酸铟对V79细胞内活性氧和线粒体膜电位的影响

摘要：

[目的]观察硫酸铟对中国仓鼠肺纤维细胞(V79细胞)内活性氧(ROS)和线粒体膜电位的影响.[方法]不同浓度硫酸铟(0.5、1.0、2.0、4.0、8.0 mmol/L)染毒体外培养的V79细胞,MTT法检测细胞存活率；以2',7'-荧光素乙二酯和碘化四氯代四乙基苯咪唑羰花青为探针,采用流武细胞术,检测经不同浓度硫酸铟染毒12h后V79细胞内ROS和线粒体膜电位的水平. [结果]硫酸铟能明显降低V79细胞的存活率；不同浓度硫酸铟作用于V79细胞12h后,细胞内的平均荧光强度从21.60增加到31.10,线粒体膜电位从0.191 3降低到0.1090,与对照组相比,差异有统计学意义(P＜0.05). [结论]硫酸铟能增加V79细胞内ROS的释放、降低线粒体膜电位,影响细胞的正常代谢功能,对细胞造成损伤.

关键词：硫酸铟、V79细胞、活性氧、线粒体膜电位

所属期刊栏目：28

分类号：R114(卫生基础科学)

在线出版日期：2012-02-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：684-686