上海市社区居民糖调节受损流行特点及影响因素的logistic回归分析

摘要：

[目的]调查上海市社区居民糖调节受损的流行病学特征,探讨糖耐量受损(IGT)、空腹血糖受损(IFG)的危险因素.[方法]对上海市13 495人展开IGT和IFG流行病学调查,运用单因素和多因素非条件logistic回归分析,探讨影响IGT、IFG发生的危险因素.[结果]IGT、IFG患病率为6.95%、1.75%(世界人口标化率为4.42%、1.03%),随着年龄的增加,IGT、IFG患病率逐步升高;进入多因素非条件logistic回归模型的因素有年龄、超重、肥胖、腰臀比(WHR)、三酰甘油(TG)、高血压、糖尿病家族史(P＜0.05或P＜0.01).[结论]糖调节受损具有高龄群体高患病的增龄特点;年龄、超重、肥胖、WHR、TG、高血压、糖尿病家族史为糖调节受损的主要危险因素.

关键词：IGT、IFG、Logistic回归分析、患病率

所属期刊栏目：23

分类号：R181.3+8(流行病学与防疫)

在线出版日期：2006-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：122-124