根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较

摘要：

目的:比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管(MB2)的发现率与实际发生率的差异,为推广根管显微镜的临床应用提供依据.方法:离体上颌第一磨牙90个,分为两组,A组45个牙,采用改良开髓口,根管显微镜下探查寻找MB2并记录其发现率;B组45个牙,制成透明标本,观察近颊根的解剖形态,记录MB2的发生率,并与根管显微镜下MB2发现率相比较.结果:根管显微镜下A组MB2的发现率82.22%,透明牙标本B组显示的MB2发生率86.66%,二者之间不存在显著差异(P>0.05).结论:使用根管显微镜,MB2的发现率接近于其实际发生率.

关键词：根管显微镜、MB2、改良开髓口

所属期刊栏目：26

分类号：R781.05(口腔科学)

在线出版日期：2010-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29