注意缺陷多动障碍儿童事件相关电位P300特征分析
目的::探讨注意缺陷多动障碍(ADHD)儿童事件相关电位(event related potential,ERP)P300的特点。方法:对100例ADHD患儿(研究组)[注意缺陷为主型( ADHD-I )34例、多动/冲动为主型(ADHD-HI)24例、混合型(ADHD-C)42例)]和100名正常儿童(对照组)前额区(Fz)、中央区(Cz)两个脑区的ERP P300潜伏期及波幅进行检测,比较分析研究组与对照组、ADHD各亚型及不同SNAP-Ⅳ评分分组(1.6~2.0为中度组、>2.0为重度组)的P300潜伏期及波幅的差异。结果:①与对照组比较,研究组靶刺激在前额区( Fz)及中央区( Cz) P300潜伏期显著延长,波幅降低,差异具有统计学意义( P均<0.01);②ADHD各亚型组间P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P>0.05);③不同SNAP-IV评分组间,P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P>0.05)。结论:ADHD患儿P300的潜伏期显著延长,波幅降低,提示ADHD患儿对信息加工处理的速度减慢,注意力、记忆力缺陷及认知加工能力不足。
注意缺陷多动障碍、事件相关电位、P300
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R749.94(神经病学与精神病学)
广西科学研究与技术开发计划项目桂科攻1598012-27
2016-11-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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