玉米秆表面的研究分析

摘要：

借助扫描电子显微镜和X射线能谱仪(SEM-EDAX)对玉米秆表面进行分析,结果表明:玉米秆表面较为平滑、致密,除H外,主要由C、O、Si三种元素组成,含Si量高达30%,其表面零星分布的块状物和棒状物则有较高的S和K含量.

关键词：玉米秆、表面分析、扫描电镜-X射线能谱分析

所属期刊栏目：34

分类号：S38(农产品的综合利用)

资助基金：湖南省社会科学基金04C690

在线出版日期：2008-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：23-25