增强T1WI直方图分析在鉴别脑高低级别胶质瘤中的价值
目的 探讨增强T1WI直方图分析在鉴别高低级别脑胶质瘤中的价值. 方法 纳入经病理诊断为脑胶质瘤的患者61例,其中低级别组28例,高级别组33例.术前均行常规磁共振增强扫描.采用基于Matlab编写的软件计算每位患者增强后T1WI最大层面的直方图参数,包括偏度、峰度、均匀性、能量和熵.采用独立样本t检验比较高低级别胶质瘤各直方图参数,对有统计学意义的直方图参数绘制受试者工作特征曲线(ROC),并确定鉴别高低级别胶质瘤的最佳临界值,计算各参数的敏感度、特异度.结果 高级别胶质瘤的均匀性及能量较低级别胶质瘤低(P <0.001),其熵较低级别胶质瘤高(P <0.001).两者的偏度值与峰度值均无统计学差异(P =0.164~0.813).其中熵以1.520为界值所得的ROC曲线下面积最大[0.833 (95% CI:0.726~ 0.941)],其鉴别高低级别胶质瘤的敏感度和特异度分别为90.9%和75%.结论 增强后T1WI直方图分析在鉴别高低级别胶质瘤有一定的价值,为术前诊断提供可靠的客观依据.
胶质瘤、磁共振成像、直方图分析
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R739.41;R445.2;R541.4
2018-08-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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