短时功能性电刺激不导致喉返神经急性炎性细胞因子及钾离子通道mRNA表达改变

摘要：

目的:研究功能性电刺激对喉返神经有无急性损伤导致的炎症反应和钾离子通道损伤.方法:30只新泽西家兔随机分成3组,每组10只.一组给予功能性电刺激,一组放置电极于喉返神经表面后并不给予电刺激,一组为正常无刺激组.刺激为串刺激,3 s刺激,间歇2 s,4 mA电流,50 Hz频率,2 ms的方波刺激时程.刺激总时间为3h.1h后,收集局部神经标本,测量其急性损伤相关反应性炎性细胞因子IL-10,TGF-β1,TNF-α以及ATP敏感钾离子通道(KATP)蛋白Kir6.1,Kir6.2,SUR2AB的mRNA表达.测量方法为RT-Real time PCR.使用琼脂糖凝胶电泳定性PCR产物.刺激过程支撑喉镜观察声带有无同电刺激同步的内收活动,以确定是否有神经功能损伤,刺激结束后观察局部神经有无烧伤变形.结果使用One-Way ANOVA方差分析统计.结果:3个主要的急性炎症细胞因子IL-10,TGF-β1,TNF-α和细胞膜离子通道功能结构KATP的3个主要蛋白Kir6.1,Kir6.2,SUR2 AB的mRNA表达三组之间无明显差别,刺激处的神经无损伤痕迹,功能性电刺激过程中均有与电刺激同步的声带内收.结论:短时功能性电刺激不导致喉返神经急性炎性细胞因子及钾离子通道mRNA表达改变.

关键词：电刺激、喉返神经、急性损伤、炎性细胞因子、钾离子通道

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分类号：R392.114

资助基金：广东省科技计划项目2008B030301171;广东省医学基金资助项目A2009007;教育部回国留学基金2009-8

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1131-1134