二阶自相关过程Shewhart型控制图的性能评价

摘要：

针对二阶自相关过程,分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart型修正控制图和残差控制图平均运行链长的计算方法,并通过其数值结果的比较分析,得到结论:当自相关过程系数均为正值时,修正图的性能较好:当过程系数均取负值时,残差图较为适用;当过程系数符号相异时,两图性能可采用所给方法具体比较.该结论为控制图的选择和应用提供了理论依据.

关键词：统计过程控制、修正Shewhart图、Shewhart残差图、平均运行链长、自相关过程

所属期刊栏目：26

分类号：O213.1(概率论与数理统计)

资助基金：国家自然科学基金70571041

在线出版日期：2011-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：619-622,628