不完全量测下随机有偏离散系统的Cramér-Rao下界
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不完全量测下随机有偏离散系统的Cramér-Rao下界

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针对含有不完全随机有偏测量序列的状态估计问题,给出了统计意义下的修正递推估计误差方差Cramér-Rao 下界(CRLB)求解算法.首先建立了不完全随机有偏量测离散系统的数学模型,进而推导了枚举的CRLB和统计意义的CRLB计算式,该统计意义的CRLB为枚举CRLB的下界,其计算量远小于枚举CRLB求解的计算量.最后,以给定探测概率和偏差发生率下的一类光电跟踪系统为例,进行了数字仿真.

状态估计、不完全量测、随机有偏、Cramér-Rao下界

27

TP13(自动化基础理论)

国家自然科学基金资助项目60804019,60874118;南京理工大学科技发展基金资助项目XKF09020

2010-09-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

927-932

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