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10.1360/N972017-00722

近场微波显微镜在超导材料高通量表征中的应用与前景

引用
“材料基因组计划”旨在缩短材料的研发周期,作为材料研发中不可或缺的实验环节,各种高通量合成和快速表征技术的发展也越来越受到重视.近场微波显微镜因具有微区扫描快速表征的能力,适用于组合材料的微波特性快速表征.本文针对超导材料的一些重要物理参量,分析了近场微波显微镜对高通量薄膜快速表征的个别案例.并以衰逝微波探针显微镜为例,介绍了该类仪器的构成、测量原理和数据分析方法,简要探讨了其应用于超导机理和电子学器件研究的前景.

材料基因组、高通量实验技术、组合薄膜、近场微波显微镜

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国家重点研发计划2015CB921000,2016YFA0300301,2017YFA0303003;中国科学院前沿科学重点研究项目QYZDB-SSW-SLH008,QYZDY-SSW-SLH001;国家自然科学基金11674374,11474338;北京市科技计划Z161100002116011,D161100002416003,D161100002416001;中国科学院战略性先导科技专项B类XDB07020100,XPDB01-01

2018-06-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共12页

4025-4036

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2017,62(34)

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