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10.3321/j.issn:0023-074X.2006.03.002

电感耦合等离子体CVD室温制备的纳米Si薄膜场电子发射研究

引用
利用电感耦合等离子体化学气相沉积在室温下制备了Si薄膜,用拉曼谱对样品的结构进行了表征,502 cm-1附近散射峰的出现说明在样品中形成了纳米结晶相. 用原子力显微镜观察样品表面形貌发现,在合适的等离子体条件下制备的样品,其表面由随机均匀排列的高密度Si锥组成,Si锥的高度为30~40 nm,底面平均直径约为200 nm. 场电子发射测量结果显示样品具有良好的电子发射特性,开启电压为7~10 V/μm.

ICP-CVD、纳米行Si锥、场电子发射、低温生长

51

O4(物理学)

中国科学院资助项目10175030;甘肃省科技攻关项目4WS035-A72-134

2006-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

251-254

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0023-074X

11-1784/N

51

2006,51(3)

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