基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量

摘要：

在传统的轻敲模式原子力显微镜基础上利用抬高模式对DNA分子的高度进行了测量研究.通过不断抬高针尖高度,逐步减小针尖对样品的作用力,以测量软样品的形变量,并通过记录针尖的抬高高度来计算DNA分子的高度.实验中利用抬高模式测得的DNA分子高度为1.5±0.2 nm,而传统轻敲模式下测得的DNA分子的高度为0.8±0.2nm,表明针尖对DNA的作用力是导致传统轻敲模式测得DNA分子高度较低的重要因素.同时本文采取的方法也适用于测量其他软样品的高度.

关键词：抬高模式、原子力显微镜、抬高扫描高度、弹性形变、高度测量

所属期刊栏目：49

分类号：Q2(细胞生物学)

资助基金：国家自然科学基金10335070,30200051,29579293,10304011;中国科学院知识创新工程项目KJ951-A1-603,KJ951-A1-409,KJ952-J1-469,KJCX1-06,KSCXⅠ-06;中国科学院特别支持项目STZ-00-07;上海市纳米科技专项基金0114NM070,00XK14029,0352NM118;科技部资助项目2002CCA00600,2003BA310A02

在线出版日期：2004-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1491-1494