10.16461/j.cnki.1000-4734.2017.01.001
微量样品的X射线粉晶衍射分析研究
采用石英单晶体制做了一个无背景片样品架,具有2θ小于120°范围内无衍射峰,背景很低等优异特点.以微量的锆石、绿柱石和青铜器样品为例进行了测试,得到的数据质量高,可以正确的鉴定所含物相以及相对含量.且所用的样品量为几毫克到几十毫克,因此对于微量试样的分析将具有重要的意义.
X射线衍射、微量试样、无背景片
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P575.5(矿物学)
2017-06-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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