叶腊石微结构及其晶体结构缺陷的高分辨透射电镜分析

摘要：

采用场发射扫描电镜（FE-SEM）、高分辨透射电镜（HRTEM）结合选区电子衍射（SAED）、X射线粉晶衍射（XRD）及X射线荧光光谱（XRF）等对浙江青田叶腊石的微结构特征进行较系统的研究。结果表明：①粉晶X射线衍射证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石粉体选区电子衍射结果吻合,且其伴生矿为石英。②叶腊石微晶体呈＂复式板片＂构型,且＂复式＂板片中薄片厚度约为8±2 nm。③在高能电子束辐照下,叶腊石矿物颗粒形貌及晶格结构发生明显的改变,且由此产生晶格膨胀,并最终形成非晶态。

关键词：叶腊石、微结构、扫描电镜、高分辨透射电镜、选区电子衍射

所属期刊栏目：32

分类号：P575;P579(矿物学)

资助基金：浙江省科技厅重大主题专项项目2007C111042;浙江省研究生教育创新基金1004

在线出版日期：2012-04-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：65-73