矿物中单个有机包裹体测试与TOF-SIMS技术的应用
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1000-4734.2000.02.012

矿物中单个有机包裹体测试与TOF-SIMS技术的应用

引用
有机包裹体是一种富含有机质的矿物流体包裹体.单个有机包裹体在研究成岩成矿作用和油气成藏历史过程方面具有重要的实用价值.目前常用于单个有机包裹体分析的技术有荧光光谱、显微傅立叶红外光谱、激光拉曼光谱和二次离子质谱(SIMS)等.本文对这些方法的应用现状和存在的问题进行了客观的分析,同时还介绍了一种可用于单个有机包裹体分析的新技术--飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),对其分析原理、方法和应用前景等进行了讨论.

有机包裹体、分析测试、飞行时间二次离子质谱

20

P57(矿物学)

中国博士后科学基金1999/10;贵州省自然科学基金99-3091

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

172-176

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

矿物学报

1000-4734

52-1045/P

20

2000,20(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn