X线头影测量长度相关指标与全颅底长的回归分析

摘要：

目的:探讨颅面自身大小对X线头影测量分析中长度相关指标的影响，并以全颅底长为内部参照，建立回归方程。方法:回顾性分析33例患者的头颅定位侧位片。选取18个标志点测量25个长度相关指标，采用全颅底长代表颅面大小，分析这些长度测量指标与全颅底长的回归关系。结果:所有测量指标与全颅底长都呈正相关，除U6-PP外，其他指标与全颅底长的回归方程均有统计学意义。结论:X线头影测量长度相关指标与全颅底长关系密切，在对长度测量值进行数据分析时，应考虑颅面自身大小对其的影响。

关键词：X线头影测量、全颅底长、回归分析

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在线出版日期：2023-05-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：187-190