微种植体支抗矫治上颌前突15例的X线头影测量研究

摘要：

目的：评价微种植体在上颌前突患者正畸治疗中的支抗作用。方法15例上颌前突患者,拔除上颌第一前磨牙后,使用微种植体支抗结合滑动法关闭拔牙间隙,对矫治前后的X线头颅定位侧位片进行测量,分析软硬组织的变化,采用SPSS 16.0软件包对数据进行统计学处理。结果治疗后上颌中切牙切缘平均腭向移动6.52 mm,上颌第一磨牙近中接触点平均近中移动0.41 mm,上唇突点后移,鼻唇角加大,A点轻微后移,患者侧貌明显改善。结论微种植体在关闭拔牙间隙过程中具有完全支抗作用。

关键词：微种植体、支抗、上颌前突、X线头影测量

分类号：R783.5(口腔科学)

在线出版日期：2015-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：842-845