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10.11752/j.kqcl.2013.04.14

半导体激光在深龋治疗中的临床效果

引用
目的 探讨半导体激光机在深龋治疗中的止痛和降低继发龋的作用.方法 选择年龄30~50岁,全身健康状况良好,90位患者的96颗深龋患牙.分成2组,每组48颗患牙.实验组使用半导体激光照射,对照组使用局部麻醉,比较2组的止痛效果;并于治疗后1年、2年、3年后分别复查其继发龋的发生情况,对比两组治疗时的止痛效果以及继发龋的发生率.结果 实验组止痛有效的患牙有35颗、对照组有36颗,2组之间的差异无统计学意义(P>0.05);治疗后1年、2年、3年复查,实验组继发龋发生率分别为7.3%、10.3%和16.2%,对照组分别为23.7%、30.6%和37.1%.2组继发龋发生率在统计学上有显著性差异(P<0.05).所有复查牙齿均未出现牙髓炎症状.结论 半导体激光仪照射深龋牙后,有止痛效果;并能有效提高牙齿防龋能力,降低继发龋.

深龋、半导体激光仪、止痛、继发龋

22

R78;G80

上海市嘉定区科委资助项目2008jkk030

2013-12-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

219-221,224

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1004-7565

33-1153/TH

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