过氧化氢对银汞合金电化学腐蚀性能的实验研究

摘要：

目的 研究不同浓度过氧化氢对银汞合金电化学腐蚀性能的影响.方法 采用电化学工作站的开路电位、电化学阻抗谱及动电位极化曲线法对不同浓度过氧化氢(0％、3.6％、10％及30％)浸泡24h后的牙科银汞合金在人工唾液中的腐蚀行为进行比较.结果 10％和30％过氧化氢浸泡后的银汞合金在人工唾液中开路电位较快地达到了一个稳定的值,且开路电位较短时间变化范围大小顺序为0％组＜3.6％组＜10％组＜30％组；不同浓度过氧化氢浸泡后的银汞合金在人工唾液中的等效电路极化电阻大小顺序为:0％组＞3.6％组＞10％组＞30％组,与动电位极化曲线腐蚀电位(Ecorr)结果一致；而自腐蚀电流密度(Jcorr)结果为:0％组＜3.6％组＜10％组＜30％组.结论 随着过氧化氢浓度的升高,银汞合金在人工唾液中的耐腐蚀性能越来越差.

关键词：过氧化氢、牙科银汞合金、电化学腐蚀

所属期刊栏目：21

分类号：TN4;TG1

资助基金：上海市重点学科建设项目S30206;上海市卫生局青年科研项目20114Y053

在线出版日期：2012-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：65-69,86