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10.16660/j.cnki.1674-098X.2017.35.058

利用CO2激光修复熔石英光学元件损伤的残余应力控制

引用
CO2激光修复技术是修复熔石英光学元件激光损伤的主要方法,但是在修复过程中可能出现烧蚀、气泡、残余应力、调制等问题,尤其是残余应力问题,如果不加以控制极易导致光学元件再损伤和局部开裂.本文主要研究了在利用CO2激光修复熔石英光学元件的激光诱导损伤过程中的残余应力控制.通过塞纳蒙(Senarmont)应力检测法,测量应力双折射产生的光程差随激光退火时间的变化关系,发展了一种临界损伤尺寸开裂法精确测量激光退火后的残余应力,有效控制了产生的残余应力,提升了熔石英光学元件损伤点的抗损伤能力.

激光损伤修复、残余应力、塞纳蒙(Senarmont)应力检测法、熔石英

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TN24(光电子技术、激光技术)

2018-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1674-098X

11-5640/N

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2017,14(35)

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