卤素氟化物（C2H5OH）nH2O分子荧光光谱的振子强度分析

摘要：

卤素氟化物是一类反应活性很强的物质，在诸多领域中有重要作用。利用高分辨快电子能量损失谱仪，采用高分辨的dipole（e，e）方法可对卤素氟化物的分子荧光光谱振子强度进行了分析，其避免了光学测量过程中存在的精度低、效率低的缺陷。在21~26 eV的能量损失区域中，检测获取卤素氟化物卤素氟化物分子荧光光谱的11S→n1P跃迁以及电离过程的光学振子强度谱，并在59~67 eV和69~74 eV的能量损失区域中，分析卤素氟化物分子荧光光谱的自电离共振过程的光学振子强度谱，实验将得到的结果同前人研究成果进行对比分析，实验结果说明所提方法获取的卤素氟化物分子荧光光谱的振子强度，同前人研究结果具有较高的匹配度，具有较高的应用价值。

关键词：卤素氟化物、分子、荧光光谱、振子强度

分类号：O6(化学)

资助基金：电子与原子碰撞 YJYBZC201247。

在线出版日期：2014-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：9-12