求解测试集优化问题

摘要：

数字电路的测试生成通常是求解一个或一组测试矢量,这些测试矢量能够激活原始故障,并将这些故障效应传递到最终的输出端.测试集优化的基本目标是确定有效的测试矢量,即通过这些测试向量可以区分电路的正常状态与故障状态.目前随着各种智能优化算法的深入研究发展,针对测试集的优化方案也成为了这些智能策略发挥的舞台.

关键词：测试集优化、测试矢量、冗余结构

所属期刊栏目：28

分类号：TP302.7(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2012-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：96-97,100