全球电离层地图TEC数据的插值算法

摘要：

由IGS工作组提供的全球电离层地图(GIM)是电离层重要的应用数据.卫星高度计能够提供全球实时的电离层延迟误差校正.利用GIM数据,以Jason-3时空分辨率进行电离层总电子含量(TEC)的时间维度插值和空间维度插值,其中空间维度插值采用了Kriging插值和双线性插值两种方法.针对两种插值方法得到的总电子含量,与平滑处理的Jason-3高度计cycle80双频延迟校正值转化的总电子含量进行对比分析.结果 显示:其与Kriging插值的平均偏差为0.94 TECU,均方根误差为2.73 TECU,相关系数为0.91;与双线性插值的平均偏差为1.43 TECU,均方根误差为6.85 TECU,相关系数为0.61.这说明Kriging插值方法的精度明显高于双线性插值方法.

关键词：全球电离层地图、高度计、时间插值、Kriging插值、双线性插值

所属期刊栏目：41

分类号：P353(空间物理)

资助基金：国家自然科学基金;山东省自然科学基金

在线出版日期：2021-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：411-416