自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

摘要：

基于2004年实测数据的统计分析,将自相关分析法用于电离层TEC的缺值内插,并进行精度评估.采用上海地区GPS综合应用网和中国地壳运动GPS监测网数据,解算成电离层垂直TEC,对缺值进行了时序内插及评估.结果表明,缺值段内的插值误差一般中间较大,两侧较小,插值误差远小于均方差.将自相关分析法内插结果与线性插值法、抛物线法、三次样条法内插结果进行对比,发现对于缺值较多、变化较复杂的缺值段,其插值精度有明显的提高.采用自相关方法进行内插后,有效减小了由于缺值而引起的局部跳跃变化,可以比较准确地研究TEC变化特性.

关键词：电离层TEC、内插精度、TEC变化特性

所属期刊栏目：39

分类号：P352.7(空间物理)

资助基金：国家自然科学基金项目NNSFC 40890164;公益性行业气象科研专项200806072;宝鸡市科技计划项目2017JH2-19;宝鸡文理学院重点项目ZK2017023

在线出版日期：2019-12-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：738-745