OFDI 逆向技术溢出的最佳技术差距区间研究--基于面板门槛模型方法

摘要：

从技术差距和吸收能力角度将 OFDI 逆向技术溢出引入 Bruno 和 Lichtenberg 提出的国际技术溢出测度模型，利用面板门槛模型方法和2003—2014年我国30个省级行政区 OFDI 数据，检验 OFDI 逆向技术溢出是否存在“最佳技术差距区间”。实证结果表明，技术差距与 OFDI 逆向技术溢出存在双门槛效应；在双门槛决定的最佳技术差距区间内，相关地区的企业对先进技术吸收能力最强，OFDI 带来的逆向国际技术溢出效果最优。

关键词：逆向技术溢出、面板门槛模型、双门槛效应、最佳技术差距区间

分类号：F244(劳动经济)

资助基金：国家社科基金项目“基于知识整合的企业双元性创新平衡机制与组织实现研究”13CGL015；教育部人文社科基金青年项目“协同创新驱动中小企业升级的机理与路径研究”13YJCZH132

在线出版日期：2015-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：202-205,216