10.3969/j.issn.1000-7695.2015.17.037
OFDI 逆向技术溢出的最佳技术差距区间研究--基于面板门槛模型方法
从技术差距和吸收能力角度将 OFDI 逆向技术溢出引入 Bruno 和 Lichtenberg 提出的国际技术溢出测度模型,利用面板门槛模型方法和2003—2014年我国30个省级行政区 OFDI 数据,检验 OFDI 逆向技术溢出是否存在“最佳技术差距区间”。实证结果表明,技术差距与 OFDI 逆向技术溢出存在双门槛效应;在双门槛决定的最佳技术差距区间内,相关地区的企业对先进技术吸收能力最强,OFDI 带来的逆向国际技术溢出效果最优。
逆向技术溢出、面板门槛模型、双门槛效应、最佳技术差距区间
F244(劳动经济)
国家社科基金项目“基于知识整合的企业双元性创新平衡机制与组织实现研究”13CGL015;教育部人文社科基金青年项目“协同创新驱动中小企业升级的机理与路径研究”13YJCZH132
2015-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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