专利计量视角下的我国纳米技术发展现状及趋势分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-7695.2014.05.022

专利计量视角下的我国纳米技术发展现状及趋势分析

引用
为了解我国纳米技术发展现状,采用专利计量方法,对纳米技术专利申请的时间分布、技术领域分布、申请人分布、技术发展态势以及发展趋势进行分析.认为,我国纳米技术围绕着碳的制备等领域在快速发展的同时正在进行新一轮技术的储备;纳米技术目前主要处于科研阶段,高校与企业合作以促进成果转化问题应引起足够的重视;多数申请人还不具备较为全面的技术,需加强各具有不同技术和资源优势的申请人之间的合作,以提高我国纳米技术的整体全面提升.

专利计量、纳米技术、时间分布、技术领域分布、申请人分布、发展态势、发展趋势

34

G306;C18(科学研究理论)

2014-07-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

105-109

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

科技管理研究

1000-7695

44-1223/G3

34

2014,34(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn