中美纳米传感器技术专利申请对比研究

摘要：

以德温特专利数据库收录的1962 -2009年间在中国和美国申请的纳米传感器技术专利为研究对象,通过对专利在年度分布、公司分布、应用领域分布等方面的计量分析,对中美两国纳米传感器技术创新现状和发展趋势进行全面分析与比较,从而为我国政府、科研机构与企业制定纳米传感器技术科技发展计划、开展相关技术研发等提供决策支持与事实依据.

关键词：美国、中国、纳米传感器技术、专利

分类号：G353.1(情报学、情报工作)

资助基金：科技基础性工作专项“主要国家重点研发领域及主要科技计划和重大专项发展现状的调查与监测平台建设”2009FY240100

在线出版日期：2012-02-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：166-170