电子元器件加速寿命试验技术浅析
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10.3969/j.issn.1674-7135.2016.06.018

电子元器件加速寿命试验技术浅析

引用
介绍了电子元器件加速寿命试验的理论基础及常用的几种试验方法,并对几种加速寿命试验方法进行了比较。结合工作实践中开展的电子产品加速寿命试验方案的设计与编制工作,讨论了电子元器件加速寿命试验的几点技术问题。

电子元器件、加速寿命试验、恒定应力、步进应力、递进应力、加速模型

13

V443(航天仪表、航天器设备、航天器制导与控制)

2017-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

86-88

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1674-7135

61-1420/TN

13

2016,13(6)

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