短波长X射线体应力无损分析仪取得突破性进展

摘要：

材料、工件的残余应力及其分布特征是影响其物理化学性能的重要因素.目前,虽然 X 射线应力仪已经得到商业化普及,但其只可测定材料表层约 10 微米深度范围内的应力,无法完成内部应力的无损测定.中子衍射和高能同步辐射装置可用于材料内部应力测试,但该类仪器都是以反应堆、散裂中子源或同步辐射光源等大型装置为基础,这些装置设备庞大、造价昂贵,无法市场化推广.

机标关键词：短波长、射线、体应力、无损测定、内部应力、同步辐射装置、物理化学性能、同步辐射光源、材料表层、市场化推广、散裂中子源、中子衍射、应力测试、深度范围、分布特征、残余应力、应力仪、商业化、反应堆、造价

分类号：P31;O43

在线出版日期：2016-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：55-58